Máy đo độ dày lớp phủ đặc biệt.
Phát hiện độ dày lớp phủ đặc biệt: mạ niken không điện, vàng ngâm palladium, palladium, niken, rhodi, v.v.;
Bộ phận ô tô, phát hiện độ dày lớp phủ của bảng mạch (PCB), chẳng hạn như tụ điện.
Phát hiện lớp phủ hợp kim một lớp, nhiều lớp.
Nó có thể đồng thời phát hiện độ dày và tỷ lệ thành phần của lớp phủ hợp kim.
Tiêu điểm vi mao quản (70um) có thể được sử dụng để phát hiện mẫu.
Có thể phát hiện độ dày màng của màng nhiều lớp (lên đến 5 lớp).
Kiểm soát giai đoạn mẫu thuận tiện.
Có thể phát hiện liên tục nhiều điểm.
Hỗ trợ điều khiển từ xa trực tuyến.
Mã SP:iEDX-150μWT
Giá bán:Liên hệ
Ưu điểm và ứng dụng chính:
Máy đo độ dày lớp phủ nhập khẩu 150μWT có thể hỗ trợ phát hiện độ dày lớp phủ đặc biệt: mạ niken không điện, vàng ngâm palladium, palladium, niken, rhodium, v.v.;
Bộ phận ô tô, phát hiện độ dày lớp phủ của bảng mạch (PCB), chẳng hạn như tụ điện.
Phát hiện lớp phủ hợp kim một lớp, nhiều lớp.
Nó có thể đồng thời phát hiện độ dày và tỷ lệ thành phần của lớp phủ hợp kim.
Tiêu điểm vi mao quản (35μm) có thể được sử dụng để phát hiện mẫu.
Có thể phát hiện độ dày màng của màng nhiều lớp (lên đến 5 lớp).
Kiểm soát giai đoạn mẫu thuận tiện.
Có thể phát hiện liên tục nhiều điểm.
Hỗ trợ điều khiển từ xa trực tuyến.
Item
Details
X-ray generator
Mo / Rh / W / Ag Target (Option), 50kV, 1mA
Detector
SDD (Silicon Drift Detector)
Resolution limit
125eV (Mn Kα)
X-ray coverage
Poly capillary optics (50 ~ 100μm)
0.035mm（adjustable）
Measuring range
Al (13) ~ U (92)
Sample type
Solid / Liquid / Powder, Multi-Layer
Size of sample
chamber390 × 410 × 100 mm(W × D × H)
Key features
- Auto / Manual Stage Mode - Plating thickness measurement general, Rh, Pd, Au, Ag, Sn, Ni
- Film thickness measurement of multilayer thin films (up to 5Layer).
Gửi bình luận của bạn